journal article·1998-01

Ballistic electron emission microscopy measurements of epitaxially grown Pt/CaF2/Si(111) structures

V.P. LaBella, C.A. Ventrice, L.J. Schowalter

Applied Surface Science· Volume 123-124
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Abstract

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Research context

OpenAlex topics: Semiconductor materials and devices · Surface and Thin Film Phenomena · Integrated Circuits and Semiconductor Failure Analysis

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References (25)

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