Experimental and theoretical study of silicon-doped Sb2Te3 thin films: Structure and phase stability
Source abstract
Abstract
National Integrate Circuit Research Program of China [2009ZX02023-3]; National Basic Research Program of China [2007CB935400, 2010CB934300, 2006CB302700]; National High Technology Development Program of China [2008AA031402]; Science and Technology Council
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Research context
OpenAlex topics: Phase-change materials and chalcogenides · Chalcogenide Semiconductor Thin Films · Solid-state spectroscopy and crystallography
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