journal article·1990-09

Mechanistic studies of the initial stages of etching of Si and SiO2 in a CHF3 plasma

Ch. Cardinaud, G. Turban

Applied Surface Science· Volume 45· Issue 2
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Abstract

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Research context

OpenAlex topics: Plasma Diagnostics and Applications · Semiconductor materials and devices · Ion-surface interactions and analysis

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References (31)

Show source-provided references
1. Ephrath · J. Electrochem. Soc. · 1979 · 126 · 141910.1149/1.2129291 ↗
2. Ephrath · J. Electrochem. Soc. · 1982 · 129 · 228210.1149/1.2123494 ↗
3. Lehman · J. Vac. Sci. Technol. · 1978 · 15 · 31910.1116/1.569581 ↗
4. Coburn · J. Appl. Phys. · 1979 · 50 · 521010.1063/1.326660 ↗
5. Coburn · Annu. Rev. Mater. Sci. · 1983 · 13 · 1910.1146/annurev.ms.13.080183.000515 ↗
6. d'Agostino · Thin Solid Films · 1986 · 143 · 16310.1016/0040-6090(86)90384-6 ↗
7. Oehrlein · J. Appl. Phys. · 1987 · 62 · 66210.1063/1.339766 ↗
8. Bariya · 1988 · 59
9. Oehrlein · Mater. Res. Soc. Symp. Proc. · 1987 · 98 · 22910.1557/PROC-98-229 ↗
10. Ephrath · J. Electrochem. Soc. · 1982 · 129 · 182210.1149/1.2124301 ↗
11. Schwartz · J. Electrochem. Soc. · 1979 · 126 · 46410.1149/1.2129063 ↗
12. Marquardt · J. Soc. Ind. Appl. Math. · 1963 · 11 · 43110.1137/0111030 ↗
13. Oehrlein · Thin Solid Films · 1986 · 143 · 26910.1016/0040-6090(86)90180-X ↗
14. Cardinaud · J. Electrochem. Soc. · 1988 · 135 · 147210.1149/1.2096034 ↗
15. Cardinaud · Rev. Phys. Appl. · 1989 · 24 · 30910.1051/rphysap:01989002403030900 ↗
16. Cardinaud · Le Vide - Les Couches Minces · 1987 · 237 · 133
17. Gruntz · Phys. Rev. B · 1981 · 24 · 206910.1103/PhysRevB.24.2069 ↗
18. Shimada · J. Phys. Soc. Jpn. · 1980 · 49 · 1245
19. Hollinger · Appl. Phys. Lett. · 1984 · 44 · 9310.1063/1.94565 ↗
20. Seah · 1983 · 181
21. Seah · Surf. Interf. Anal. · 1979 · 1 · 210.1002/sia.740010103 ↗
22. Penn · J. Electron Spectrosc. Rel. Phen. · 1976 · 9 · 2910.1016/0368-2048(76)85004-9 ↗
23. Szajman · J. Electron Spectrosc. Rel. Phen. · 1981 · 23 · 80
24. Truesdale · J. Appl. Phys. · 1979 · 50 · 659410.1063/1.325908 ↗
25. Turban · Rev. Phys. Appl. · 1985 · 20 · 60910.1051/rphysap:01985002008060900 ↗
26. Science and Technology of Defects in Silicon
27. Coyle · Appl. Surf. Sci. · 1986 · 25 · 42310.1016/0169-4332(86)90085-1 ↗
28. Winters · 1980 · 69
29. Wagner · 1979
30. Fadley · J. Electron Spectrosc. Rel. Phen. · 1974 · 4 · 9310.1016/0368-2048(74)90001-2 ↗
31. Weinberger · J. Appl. Phys. · 1986 · 60 · 333210.1063/1.337743 ↗