A simple and precise way to determine electrical resistivity of isotropic conductors: Simplifying the four-probe method
Abstract
Research context
OpenAlex topics: Surface and Thin Film Phenomena · Non-Destructive Testing Techniques · Microwave and Dielectric Measurement Techniques
SciVX discovery tags are terminology-based. OpenAlex topics are source-provided classifications.
Affiliations
Escola de Engenharia de Lorena, Universidade de São Paulo 1 , Lorena-SP 12602-810, Brazil
Instituto Federal de Educação, Ciência e Tecnologia Catarinense 2 , Araquari-SC 89245-000, Brazil
Instituto de Física “Gleb Wataghin,” Universidade Estadual de Campinas 3 , Campinas-SP 13083-970, Brazil
Instituto de Ciências Tecnológicas e Exatas, Universidade Federal do Triângulo Mineiro 4 , Uberaba-MG 38025-180, Brazil
Funding
Fundação de Amparo à Pesquisa do Estado de São Paulo · Conselho Nacional de Desenvolvimento Científico e Tecnológico · Coordenação de Aperfeiçoamento de Pessoal de Nível Superior