Structural and optical characterization of Ba0.8Sr0.2TiO3 PLD deposited films
Source abstract
Abstract
Abstract Structural and optical properties of Ba 0.8 Sr 0.2 TiO 3 (BST) ferroelectric thin films, deposited by the pulsed laser ablation (PLD) technique on Si/SiO 2 /Ti/Pt, Si/SrRuO 3 and Si substrates, were performed by X-ray diffraction, micro Raman, atomic force microscopy (AFM), and optical reflectometry measurements. Temperature dependences of the Raman spectrum, and room temperature refractive and extinction indices, and surface roughness were evaluated.
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Research context
OpenAlex topics: Ferroelectric and Piezoelectric Materials · Electronic and Structural Properties of Oxides · Semiconductor materials and devices
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