Charge trapping behavior visualization of dumbbell-shaped DSFXPY via electrical force microscopy
Source abstract
Abstract
The electrons and holes are injected into the sterically hindered organic semiconductor film (DSFXPY, 1,6-di(spiro[fluorene-9,90-xanthene]-2-yl)pyrene) through applying controllable biases on the conductive atomic force microscopy tip.
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Research context
OpenAlex topics: Force Microscopy Techniques and Applications · Mechanical and Optical Resonators · Organic Electronics and Photovoltaics
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Affiliations
Key Laboratory for Organic Electronics and Information Displays & Institute of Advanced Materials (IAM)
Jiangsu National Synergetic Innovation Center for Advanced Materials (SICAM)
Nanjing University of Posts & Telecommunications
Nanjing 210023
China
Funding
National Natural Science Foundation of Jiangsu Province · National Natural Science Foundation of China
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