Local charge writing in epitaxial SmNiO 3 thin films
Source abstract
Abstract
We have investigated the evolution of work function in epitaxial correlated perovskite SmNiO 3 (SNO) thin films spanning the metal–insulator transition (MIT) by Kelvin probe force microscopy (KPFM).
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Research context
OpenAlex topics: Force Microscopy Techniques and Applications · Electronic and Structural Properties of Oxides · Ferroelectric and Piezoelectric Materials
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Affiliations
School of Engineering and Applied Sciences
Harvard University
Cambridge, USA
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