Atomic force microscopy for ferroelectric materials research
Source abstract
Abstract
This review explores the role of AFM in bridging nanoscale domain physics and intrinsic properties. We highlight how multimodal characterization and active manipulation serve as essential strategies for studying ferroelectric materials.
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Research context
OpenAlex topics: Ferroelectric and Piezoelectric Materials · Force Microscopy Techniques and Applications · Ferroelectric and Negative Capacitance Devices
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Affiliations
Department of Materials Science and Engineering, Korea Advanced Institute of Science and Technology (KAIST), Daejeon, 34141, Republic of Korea
KAIST Institute for NanoCentury (KINC), KAIST, Daejeon, 34141, Republic of Korea
Funding
National Research Foundation of Korea
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