Técnica de topografía de rayos X Berg-Barrett. Características y aplicaciones

espanolEntre los metodos topograficos de difraccion de rayos X, la tecnica Berg-Barrett resulta ser, pese a su simplicidad experimental, una herramienta fundamental para caracterizar la distribucion de determinados defectos cristalograficos y, en todo caso, se presenta como una tecnica complementaria a la microscopia electronica de transmision (MET). En el presente trabajo, tras exponer una somera revision de las caracteristicas generales de un experimento de topografia de rayos X, se analizan algunas de sus aplicaciones mas fundamentales (estudio de la subestructura de deformacion y analisis de subjuntas de grano) EnglishThe Berg-Barret X-ray diffraction topography is, in spite of its experimental simplicity, a fundamental tool to characterize some crystallographic defects in materials and, in any case, it is a complementary technique to the transmission electron microscopy (TEM). The general features of this experimental method, as well as some fundamental applications (deformation substructure and subgrain boundary characterization) are analized.