journal article·2013-07Open access

Thermal stability of Al1−xInxN (0001) throughout the compositional range as investigated during in situ thermal annealing in a scanning transmission electron microscope

J. Palisaitis, C.-L. Hsiao, L. Hultman, J. Birch, P.O.Å. Persson

Acta Materialia· Volume 61· Issue 12

Abstract

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Research context

OpenAlex topics: GaN-based semiconductor devices and materials · Metal and Thin Film Mechanics · Semiconductor materials and devices

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