Sputtered molybdenum bilayer back contact for copper indium diselenide-based polycrystalline thin-film solar cells
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Abstract
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Research context
OpenAlex topics: Thin-Film Transistor Technologies · Chalcogenide Semiconductor Thin Films · Silicon and Solar Cell Technologies
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References (33)
Show source-provided references
1. Zweibel · 1990
2. Schock · Mat. Res. Soc. Bull. · 1993 · 28 · 4210.1557/S0883769400038288 ↗
3. M. A. Contreras et al., Progr. Photovoltaics, submitted.
4. Gabor · 1994
5. Abou-Elfotouh · J. Vac. Sci. Tech. A · 1990 · 8 · 325110.1116/1.576573 ↗
6. Ashou · Thin Solid Films · 1993 · 226 · 12910.1016/0040-6090(93)90217-D ↗
7. Matson · Solar Cells · 1984 · 11 · 30110.1016/0379-6787(84)90019-X ↗
8. Niles · 1992 · 260 · 299
9. Abou-Elfotouh · J. Vac. Sci. Technol. · 1989 · 7 · 83710.1116/1.575851 ↗
10. Moons · J. Electron. Mater. · 1993 · 22 · 27510.1007/BF02661377 ↗
11. Chan · J. Appl. Phys. · 1990 · 68 · 15610.1063/1.347108 ↗
12. Rao · Phys. Status Solidi · 1986 · 94 · K15310.1002/pssa.2210940270 ↗
13. Raud · Thin Solid Films · 1991 · 201 · 36110.1016/0040-6090(91)90124-G ↗
14. Thornton · Thin Solid Films · 1989 · 171 · 510.1016/0040-6090(89)90030-8 ↗
15. Hoffman · J. Vac. Sci. Technol. · 1982 · 20 · 35510.1116/1.571463 ↗
16. Thornton · J. Vac. Sci. Technol. A · 1985 · 3 · 57610.1116/1.572997 ↗
17. Vink · J. Appl. Phys. · 1991 · 70 · 430110.1063/1.349108 ↗
18. Ballard · Adv. X-Ray Anal. · 1994 · 38
19. Yamaguchi · Jpn. J. Appl. Phys. · 1991 · 30 · 206910.1143/JJAP.30.2069 ↗
20. Bardin · Thin Solid Films · 1988 · 165 · 24310.1016/0040-6090(88)90695-5 ↗
21. Kawabata · Mat. Sci. Eng. A · 1993 · 163 · 16310.1016/0921-5093(93)90782-A ↗
22. Krusin-Elbaum · Thin Solid Films · 1987 · 153 · 34910.1016/0040-6090(87)90195-7 ↗
23. Lin · Thin Solid Films · 1987 · 153 · 35910.1016/0040-6090(87)90196-9 ↗
24. Segmuller · 1988 · Vol. 27 · 197
25. Cuthrell · J. Vac. Sci. Technol. A · 1988 · 6 · 291410.1116/1.575451 ↗
26. Residual Stress: Measurement by Diffraction and Interpretation
27. Windischmann · Critical Rev. Solid State Mater. Sci. · 1992 · 17 · 54710.1080/10408439208244586 ↗
28. Muller · J. Appl. Phys. · 1987 · 62 · 179610.1063/1.339559 ↗
29. Itoh · J. Vac. Sci. Technol. B · 1991 · 9 · 14910.1116/1.585277 ↗
30. Blech · J. Appl. Phys. · 1982 · 53 · 420210.1063/1.331244 ↗
31. Windischmann · J. Non-Cryst. Sol. · 1986 · 85 · 26110.1016/0022-3093(86)90001-3 ↗
32. Ballard · 1994 · 1133
33. Campbell · 1983 · 12