Phase in Nanooptics
Source abstract
Abstract
Quantitative phase measurements in imaging, microscopy, and nanooptics provide information not carried in amplitude measurements alone. In this issue of ACS Nano, Honigstein et al. present a new method in phase measurement. In this Perspective, we comment on this work and more broadly on the emerging role of phase and phase measurements in nanooptics.
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Research context
OpenAlex topics: Near-Field Optical Microscopy · Advanced Electron Microscopy Techniques and Applications · Force Microscopy Techniques and Applications
SciVX discovery tags are terminology-based. OpenAlex topics are source-provided classifications.
Affiliations
Department Electrical and Computer Engineering and The Beckman Institute for Advanced Science and Technology, University of Illinois, Urbana, Illinois 61801, United States
Institute of Optics, University of Rochester, Rochester, New York 14627, United States
CIC nanoGUNE Consolider, E-20018, Donostia-San Sebastián, Spain
IKERBASQUE, Basque Foundation for Science, E-48011 Bilbao, Spain
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