Space- and Time-Resolved Mapping of Ionic Dynamic and Electroresistive Phenomena in Lateral Devices
Source abstract
Abstract
A scanning probe microscopy-based technique for probing local ionic and electronic transport and their dynamic behavior on the 10 ms to 10 s scale is presented. The time-resolved Kelvin probe force microscopy (tr-KPFM) allows mapping of surface potential in both space and time domains, visualizing electronic and ionic charge dynamics and separating underlying processes based on their time responses. Here, tr-KPFM is employed to explore the interplay of the adsorbed surface ions and bulk oxygen vacancies and their role in the resistive switching in a Ca-substituted bismuth ferrite thin film.
Source: openalex_inverted_index · Quality: baseline
Research context
OpenAlex topics: Electronic and Structural Properties of Oxides · Advanced Memory and Neural Computing · Ferroelectric and Piezoelectric Materials
SciVX discovery tags are terminology-based. OpenAlex topics are source-provided classifications.
Affiliations
Center for Nanophase Materials Sciences, Oak Ridge National Laboratory, Oak Ridge, Tennessee 37831, United States
Department of Materials Science and Engineering, National Chiao Tung University, Hsinchu 30010, Taiwan
References (77)
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