Atomic force microscopy as a multimetrological platform for energy devices
Abstract
Research context
OpenAlex topics: Force Microscopy Techniques and Applications · Nanowire Synthesis and Applications · Molecular Junctions and Nanostructures
SciVX discovery tags are terminology-based. OpenAlex topics are source-provided classifications.
Affiliations
Dansk Fundamental Metrologi (DFM) – Danish National Metrology Institute, Hoersholm, Denmark
Laboratoire national de métrologie et d'essais (LNE), FR-78197 Trappes Cedex, France
Université Paris-Saclay, CentraleSupélec, CNRS, Laboratoire de Génie Électrique et Électronique de Paris, Gif-sur-Yvette, France
Sorbonne Université, CNRS, Laboratoire de Génie Électrique et Électronique de Paris, Paris, France
Ecole Centrale de Lyon, CNRS, INSA Lyon, Université Claude Bernard Lyon 1, CPE Lyon, INL, UMR5270, Ecully 69130, France
Funding
European Metrology Programme for Innovation and Research · H2020 Marie Skłodowska-Curie Actions · Uddannelses- og Forskningsministeriet