Ho 3+ 掺杂Ge-Ga-S-CsI玻璃中红外发光性能研究

采用熔融冷却法制备了系列不同Ho 3+ 离子掺杂浓度的Ge-Ga-S-CsI玻璃样品，测试了样品的折射率、吸收光谱以及中红外荧光光谱和Ho 3+ 离子5I6能级荧光寿命.应用Judd-Ofelt理论计算了Ho 3+ 离子在该基质玻璃中强度参数 Ω i （ i =2,4,6）、能级跃迁振子强度fcal、自发跃迁几率Arad等光谱参数.计算了Ho 3+ ∶ 5 I 5 → 5 I 6 (3.86μm)和 5 I 6 → 5 I 7 (2.81μm)跃迁的多声子驰豫速率.讨论了中红外荧光特性与Ho 3+ 离子掺杂浓度之间的关系.结果表明，在900nm 激光泵浦下观察到了2.81和3.86μm两处中红外荧光，分别对应于Ho 3+ ∶ 5 I 6 → 5 I 7 和 5 I 5 → 5 I 6 跃迁，当Ho 3+ 离子掺杂浓度从0.5wt%增加到1.0wt%时，两处中红外荧光强度都随相应增加，计算的Ho 3+ ∶ 5 I 5 → 5 I 6 和 5 I 6 → 5 I 7 跃迁多声子驰豫速率分别为29s -1 和34s -1 .