Three-Dimensional Characterization of Microstructure by Electron Back-Scatter Diffraction
Source abstract
Abstract
The characterization of microstructures in three dimensions is reviewed, with an emphasis on the use of automated electron back-scatter diffraction techniques. Both statistical reconstruction of polycrystalline structures from multiple cross sections and reconstruction from parallel, serial sections are discussed. In addition, statistical reconstruction of second-phase particle microstructures from multiple cross sections is reviewed.
Source: crossref · Quality: baseline
Research context
OpenAlex topics: X-ray Diffraction in Crystallography · Electron and X-Ray Spectroscopy Techniques · Microstructure and mechanical properties
SciVX discovery tags are terminology-based. OpenAlex topics are source-provided classifications.
Affiliations
Materials Science and Engineering Department, Carnegie Mellon University, Pittsburgh, Pennsylvania 15213;
United States Steel Corporation, Clairton Works, Clairton, Pennsylvania 15025
References (82)
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